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易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代！
?Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。?
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
LabX XRD-6100
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垂直型測角儀配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。 XRD-6100具有本質安全結構。 只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。 配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。 驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。 備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
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對應工業(yè)環(huán)境測定標準 · 工業(yè)環(huán)境評價標準修訂
X射線衍射裝置XRD-6000 環(huán)境測定包
適于工業(yè)環(huán)境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在勞動安全衛(wèi)生法中，關于因勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質，規(guī)定必須實施其作業(yè)環(huán)境的測定。其中，粉塵中的游離硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射線衍射裝置。最近因相關法規(guī)的修訂，對有害物質的管理濃度、分析程序進行了修改。
本測定包配備了依據(jù)「基底標準吸收校正法」的樣品臺和定量軟件，這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的工業(yè)環(huán)境測定中的游離硅、石棉進行定性分析需要的，在這些微量樣品的定量分析中也是必備的。?
游離硅的定性·定量分析
工業(yè)環(huán)境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。（從2005年4月1日開始實行）
E=3.0/（0.59Q+1） （參考）修訂前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理濃度mg/m3?Q：游離硅含有率（%）
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中，首先規(guī)定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅（定性分析），根據(jù)其定性結果，以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式，分別具有各自的特征峰，因此，易于識別其種類。
物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響，必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質的X射線吸收系數(shù)?？稍谝淮蔚臏y定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
各種游離硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
關于石棉，在2005年7月實施了【石棉傷害預防規(guī)則】。適用此規(guī)則的建材等樣品，如果其石棉含量超過重量5％左右以上，則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內標添加法對采集來的樣品進行定量，但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。
此時，作為只溶解樣品基底成分的前處理方法，實施甲酸前處理法，然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中，也可使用配備有基底標準吸收校正法的環(huán)境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD－6000環(huán)境測定包。
各種石棉的衍射模式
?石棉主要有蛇紋石類的纖蛇紋石，角閃石類的鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的特峰進征行定量分析。
環(huán)境測定包
| 配置 |
| 1. | X射線衍射裝置XRD-6000（2kW,NF Cu管球） | 1套 |
| 2. | 石墨單色儀（CM-3121） | 1套 |
| 3. | 環(huán)境測定樣品臺（RS-2001） 【規(guī)格】· 旋轉樣品臺
· 基底標準吸收校正用濾片架（Zn）
· 環(huán)境定量軟件 | 1套 |
| 4. | 冷卻水循環(huán)裝置 | 1套 |
環(huán)境測定包
| 選配件 |
| 1. | 基底標準吸收校正用濾片架（Al） |
| 2. | ICDD數(shù)據(jù)庫（PDF2 CD-ROM） |
| 3. | PDF2檢索軟件 |